Parlaklık Ölçüm Cihazı PCE-GM 75
Küçük yüzeyler için / 1245 ölçüm için hafıza / 60° ölçüm geometrisi / Ek yazılıma gerek olmadan
değerlendirme mümkün / Tek tuşlu kullanım / Kalibrasyon standardı dahil

Parlaklık ölçüm cihazı PCE-GM 75’in Ø 4.5 mm’lik ölçüm yüzeyi ile özellikle küçük yüzeylerde ölçüm gerçekleştirmek mümkündür. Hızlı ve kolay ölçümler için yüksek hassasiyet sağlayan parlaklık ölçüm cihazının maksimum hassasiyeti %1’dir. Parlaklık ölçüm cihazının tek tuşlu kullanımı hızlı ve kolay çalışma sağlar.

Parlaklık ölçüm cihazının 4.5 mm çapındaki küçük sensör ölçüm açıklığı, parlaklık seviyesinin kavisli yüzeylerde bile doğrudan ölçülmesini mümkün kılar. Parlaklık ölçüm cihazı, küçük değişiklikler ya da kirlenmeler bile ölçüm sonuçlarını etkilediğinden ulaşılması zor alanlar için idealdir. Ölçüm sonucu, düzlük, yapı, yarıçap ya da hafif gölge gibi etkili faktörlerdeki küçük değişiklikleri bile göstermelidir. Ölçülecek yüzeylerde tekrarlanabilirliğin iyi olması son derece önemlidir, çünkü aynı renge ancak farklı parlaklık seviyelerine sahip iki numune görsel olarak aynı görünmez. Daha parlak yüzey, daha az parlak olan yüzeye göre daha koyu ve daha doygun olarak algılanır. Her iki yüzeyde eşit bir görünümün elde edilecekse parlaklık ölçüm cihazı ile bu iki yüzeyin de ölçülmesi gerekir.

Parlaklık ölçüm cihazının diğer bir özelliği de veri depolama fonksiyonudur. Parlaklık ölçüm cihazı ile 1245 ölçüm kaydedilir. Verilerin okunması için parlaklık ölçüm cihazının bilgisayara bağlanması gerekir ve bunun için ek bir sürücüye ya da yazılıma gerek yoktur. Veriler parlaklık ölçüm cihazında .txt dosyası olarak kaydedilir ve doğrudan analiz edilebilir. Ölçüm verilerinin kaydedilmesinin yanı sıra her ölçüm için zaman damgası da oluşturulur.