Malzeme Test Ölçüm Cihazı

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 1500 µm, NFe: 0 … 1500 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1.0’ı + 1 µm)
• 2000 ölçüm değeri için hafıza
• Çelik ve demir gibi Fe substratlar
• Alüminyum ve bakır gibi NFe substratlar
• Ölçüm başlıkları üzerinde pratik V oluk

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 2000 µm, NFe: 0 … 2000 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1.0’ı + 1 µm)
• 2000 ölçüm değeri için hafıza
• Çelik ve demir gibi Fe substratlar
• Alüminyum ve bakır gibi NFe substratlar
• Ölçüm başlıkları üzerinde pratik V oluk

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 2500 µm, NFe: 0 … 2500 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1.0’ı + 1 µm)
• 2000 ölçüm değeri için hafıza
• Çelik ve demir gibi Fe substratlar
• Alüminyum ve bakır gibi NFe substratlar
• Ölçüm başlıkları üzerinde pratik V oluk

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 500 µm, NFe: 0 … 500 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1.0’ı + 0.5 µm)
• 2000 ölçüm değeri için hafıza
• Çelik ve demir gibi Fe substratlar
• Alüminyum ve bakır gibi NFe substratlar
• Ölçüm başlıkları üzerinde pratik V oluk

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 3000 µm, NFe: 0 … 3000 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1.0’ı + 1 µm)
• 2000 ölçüm değeri için hafıza
• Çelik ve demir gibi Fe substratlar
• Alüminyum ve bakır gibi NFe substratlar
• Ölçüm başlıkları üzerinde pratik V oluk

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 5000 µm, NFe: 0 … 3000 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1.5’i + 1 µm)
• 2000 ölçüm değeri için hafıza
• Çelik ve demir gibi Fe substratlar
• Alüminyum ve bakır gibi NFe substratlar
• Ölçüm başlıkları üzerinde pratik V oluk

• 18 tahıl türü için
• Az numune miktarı
• Sıcaklık kompanzasyonu: otomatik

Malzeme test cihazı PCE-XXM 30, yüzeylerin renk ölçümünü hızlı ve hassas bir şekilde gerçekleştirmek için tasarlanmıştır. Cihaz ile CIE-LAB, CIE-LCh, HunterLab, CIE-Luv, XYZ ve RGB gibi renk alanları belirlenebilir. 400 … 700 nm dalga boyundaki LED, renk ölçerin ışık kaynağıdır. Cihazın Ø 8 mm’lik bir ölçüm diyaframı bulunur. Kompakt tasarımının yanı sıra renk ölçer,  ΔE*ab ≤0.1 tekrarlanabilirliğe sahiptir.

• Ölçüm diyaframı: Ø 8 mm
• Dalga boyu artışı: 10 mm
• Dalga boyu: 400 … 700 nm
• Yaklaşık 10.000 ölçümlük pil ömrü
• Bluetooth arayüzü
• Play Store’da ücretsiz uygulama / PCE-XXM 30
• Çeşitli ayarlanabilir ışık kaynağı

• Erime hızı: 0.1 … 400.0 g/10 dk
• Isıtma sıcaklığı: 120 … 400 °C
• Hassasiyet sıcaklık: ±0.2 °C
• Çözünürlük: 0.1 °C
• Geniş, 7 inç TFT dokunmatik ekran
• Önceden ayarlanmış malzemeler
• Çeşitli ağırlıklar dahil
• Standart: ISO1133-1997, ASTM 1238-04C, GB / T3682-2000

Malzeme test cihazı PCE-2550, kompakt tasarımı sayesinde malların giriş ve çıkış kontrolleri için kolaylıkla kullanılabilen bir ölçüm cihazıdır. Ayarlanabilir sertlik ölçekleri, malzeme test cihazının çok yönlü olmasını sağlar. Malzeme test cihazının ölçüm aralığı, çok yumuşak ve çok sert yüzeylerde ölçüm yapılmasını sağlayacak yeterliliktedir.

• Ölçüm aralığı: 170 … 960 HLD
• Ölçüm doğrultusu: 360°
• D tipi darbe cihazı
• Ölçüm birimleri: HL, HB, HRB, HRC, HRA, HV, HS
• Dahili hafıza

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 500 µm / NFe: 0 … 500 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %1’i + 1 µm)
• Demir/çelik alüminyum, bakır, pirinç, paslanmaz çelik gibi pek çok malzeme için
• Çap: 17 mm

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 1500 µm / NFe: 0 … 1500 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %2’si + 1 µm)
• Demir/çelik ve demir dışı metaller üzerinde ölçüm için
• Çap: 17 mm

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 2000 µm / NFe: 0 … 2000 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %2’si + 1 µm)
• Demir/çelik ve demir dışı metaller üzerinde ölçüm için
• Çap: 17 mm

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 2500 µm / NFe: 0 … 2500 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %2’si + 1 µm)
• Demir/çelik ve demir dışı metaller üzerinde ölçüm için
• Çap: 17 mm

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 3000 µm / NFe: 0 … 3000 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %2’si + 1 µm)
• Demir/çelik ve demir dışı metaller üzerinde ölçüm için
• Çap: 17 mm

• HL (Leeb)
• HV (Vickers)
• HB (Brinell)
• HS (Shore)
• HRA (Rockwell A)
• HRB (Rockwell B)
• HRC (Rockwell C)
• 1.5 metre kablolu harici darbe probu
• Ölçüm verileri USB bellekte kaydedilir
• Çeşitli darbe probları aksesuar olarak mevcut
• Farklı açılarda ölçüm mümkün
• Renkli ekran

• Ölçüm aralığı: Fe: 0 … 5000 µm / NFe: 0 … 3000 µm
• Folyo kalibrasyonundan sonra hassasiyet: ±(ölçüm değerinin %2’si + 1 µm)
• Demir/çelik ve demir dışı metaller üzerinde ölçüm için
• Çap: 17 mm

• Ölçüm aralığı: 1 … 600 mm (çelik)
• Çap: 10 mm
• Minimum boru çapı: 20 x 3 mm
• Frekans: 5 MHz
• Bluetooth